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鋁膜測厚儀主要適用於薄膜₪│₪◕、紙張等非金屬軟包裝材料上鋁層厚度的高精度測量▩₪▩₪▩,隨著新型包裝材料的發展▩₪▩₪▩,要求阻透性薄膜上真空沉積大約35nm的鋁塗敷層▩₪▩₪▩,因而極大提高了薄膜對氣體的阻透性▩₪▩₪▩,鋁膜的厚度直接影響膜阻透性▩₪▩₪▩,因而測試和控制鋁膜厚度就尤為重要▩₪▩₪▩,該產品調整引數還可對金₪│₪◕、銀等其他金屬塗層的測量✘•☁。
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